1954年,史密斯(C.S.Smith)发现了硅与锗的压阻效应,即当有外力作用于半导体材料时,其电阻将明显发生变化。
1960-1970年,硅扩散技术快速发展,技术人员在硅晶面选择合适的晶向直接把应变电阻扩散在晶面上,然后在背面加工成凹形,形成较薄的硅弹性膜片,称为硅杯。
1970-1980年,硅杯扩散理论的基础上应用了硅的各向异性的腐蚀技术,扩散硅传感器其加工工艺以硅的各项异性腐蚀技术为主,发展成为可以自动控制硅膜厚度的硅各向异性加工技术
随着技术的发展,现在可以通过微机械加工工艺制作由计算机控制加工出结构型的压力传感器,其线度可以控制在微米级范围内。利用这一技术可以加工、蚀刻微米级的沟、条、膜,使得压力传感器进入了微米阶段。